Deprecated: preg_replace(): The /e modifier is deprecated, use preg_replace_callback instead in /home/ncm/public_html/engine/modules/show.full.php on line 243 Комплексная система AttoAFM-I - Cryogenic Microscope System » NCM Lab NCM Lab

Комплексная система AttoAFM-I - Cryogenic Microscope System

AttoAFM-I

Назначение:

Система представляет собой универсальный микроскопический комплекс для исследования поверхностей, наноструктур и нанокомпозитой при низких температурах, вплоть до температуры жидкого гелия, а также при сильных магнитных полях. Система выполнена «под ключ» и позволяет проводить уникальные исследования упругих, диэлектрических магнитных и сверхпроводящих свойств нанокомпозитных материалов.

В составе комплекса входят:
  • Автономная система для низкотемпературного физического эксперимента. Криостат замкнутого цикла с верхней загрузкой, низкие вибрации, охлаждающая мощность >350 мВт, 4,2 K.
  • Сверхпроводящий магнит 9 Тл, 4,2 K под криостат с диаметром 150 мм, внутренний диаметр цилиндра 52 см. Оснастка для крепления магнита. Источник питания магнита 60 А.
  • Система регулировки температуры, двухканальный контроллер, ПИД/таблица мода.
  • Криогенный сканирующий силовой микроскоп для интерферометрических дистанционных измерений с низкими шумами, для низких температур attoAFM I. AFM микроскоп с вакуумной трубкой (диаметр 50,8 мм), AFM модуль для микроскопа, включающий в себя титановый кожух, 5 дополнительных AFM наконечников, один дополнительный волновод, ARC корпус с источником питания, вмещающий до 5 систем, встраиваемый в 19” стойку, ARC100-635 модуль лазерного детектора для микроскопа attoCube. Фотодетектор 320-1060 нм. ANPx101/LT и ANPz101/LT – x- и z- позиционеры, сделанные из титана, сверхпрочные для больших нагрузок для низких температур.
  • Компьютер.
  • SPIP Image Processing Software Package for Windows, включая 3D visualization studio & filter module.

Технические характеристики микроскопа:
  • Диапазон магнитных полей от 0 до 9,5 Тл.
  • Диапазон рабочих давлений от 10-8 мБар до 1 Бар.
  • Грубое позиционирование образца - величина шага от 0.05 до 3 мкм при 300К, от 10 до 500нм при4К. Размер области 6*6 мм^2.
  • Тонкое позиционирование образца – размер поперечного скана 40*40 мкм2 при 300К и 30*30 мкм2 при 4К.
  • Ультрастабильная головка микроскопа.Вертикальный шум на датчике – ниже 0.16 пм/Гц1/2(контактная мода).
  • Интерферометрическое детектирование отклонений.
  • Образец/тип мониторинг через CCD камеру и зеркало.
2010 © NCM Lab